发明名称 SISTEMA Y METODO PARA MEDIR LA RESPUESTA EN FRECUENCIA DE UN RECINTO, Y METODO DE ECUALIZACION.
摘要 El método para medir la respuesta en frecuencia de un recinto comprende: recibir una primera señal eléctrica (A); eliminar una primera banda de frecuencias (.f1) de dicha primera señal eléctrica (A) para obtener una primera señal eléctrica modificada (B); generar una segunda señal eléctrica (D) con una frecuencia seleccionada (f) contenida en la primera banda (.f1) de frecuencias; generar una primera señal acústica (F) correspondiente a una suma de dichas señales eléctricas (B) y (D); captar una segunda señal acústica (G) proveniente de la radiación de dicha primera señal acústica (F); y comparar dicha segunda señal acústica (G) y dicha primera señal acústica (F) en correspondencia con la frecuencia seleccionada (f), para obtener un dato indicativo de la respuesta acústica del recinto, en la frecuencia seleccionada (f). La invención también se refiere a un método de ecualización y a un sistema.
申请公布号 ES2285900(A1) 申请公布日期 2007.11.16
申请号 ES20050001335 申请日期 2005.05.27
申请人 UNIVERSIDAD POLITECNICA DE VALENCIA 发明人 RIETA IBANEZ JOSE JOAQUIN;SANCHIS RICO JUAN MANUEL
分类号 H03G5/22 主分类号 H03G5/22
代理机构 代理人
主权项
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