发明名称 PROCEDIMIENTO E INSTRUMENTO PARA CARACTERIZAR UNA SUPERFICIE DE PISADO, POR EJEMPLO UNA SUPERFICIE DE CESPED SINTETICO.
摘要 Un procedimiento para caracterizar una superficie (S) de pisado, comprendiendo el procedimiento las operaciones de: - dejar caer un peso (24) desde una altura dada (h) sobre dicha superficie (S), produciendo la conversión de la energía cinética de la caída del peso (24) en energía de deformación de dicha superficie (S), siendo dicha energía de deformación capaz de ser devuelta por dicha superficie (S) a dicho peso (24), mediante lo cual dicho peso (24) se somete a un movimiento de caída y rebote; y - detectar al menos un parámetro (I a V) que representa el proceso de restitución de dicha energía de deformación por dicha superficie (S) a dicho peso (24), que se caracteriza porque el procedimiento incluye los pasos de: - detectar (32, 30) durante dicho movimiento de caída y rebote la posición de dicho peso (24) y la fuerza ejercida contra la cara frontal (28) de dicho peso (24), y - grabar las tendencias de las señales representativas de dicha posición y dicha fuerza, usando ambas tendenciaspara identificar las características de pisado de dicha superficie (S).
申请公布号 ES2285393(T3) 申请公布日期 2007.11.16
申请号 ES20040425022T 申请日期 2004.01.16
申请人 MONDO S.P.A. 发明人 STROPPIANA, FERNANDO
分类号 E01C23/01;G01N3/303;G01L5/00;G01M7/08;G01N3/00;G01N3/30;G01N3/48;G01N33/00;G01N33/24 主分类号 E01C23/01
代理机构 代理人
主权项
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