发明名称 Verfahren zur Bestimmung von physikalischen Eigenschaften einer optischen Schicht oder eines Schichtsystems
摘要
申请公布号 DE502004005147(D1) 申请公布日期 2007.11.15
申请号 DE200450005147T 申请日期 2004.09.07
申请人 APPLIED MATERIALS GMBH & CO. KG 发明人 LOTZ, HANS-GEORG DR.;SCHROEDER, JUERGEN
分类号 G01B11/06 主分类号 G01B11/06
代理机构 代理人
主权项
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