| 发明名称 |
VERFAHREN UND SYSTEM ZUM SELEKTIVEN MASKIEREN VON TESTANTWORTEN |
| 摘要 |
An apparatus for testing an integrated circuit is disclosed. The apparatus includes a compactor to compress test responses from a circuit under test that is part of an integrated circuit. |
| 申请公布号 |
DE602004009329(D1) |
申请公布日期 |
2007.11.15 |
| 申请号 |
DE20046009329T |
申请日期 |
2004.09.20 |
| 申请人 |
NXP B.V. |
发明人 |
VRANKEN, HENDRIKUS P.;GLOWATZ, ANDREAS;HAPKE, FRIEDRICH |
| 分类号 |
G01R31/3185;G01R31/317 |
主分类号 |
G01R31/3185 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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