发明名称 Verfahren zur Streustrahlungskorrektur eines CT-Systems mit mindestens zwei winkelversetzt angeordneten Fokus-Detektor-Systemen und CT-System
摘要 Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Streustrahlungsdetektion beziehungsweise zur Streustrahlungskorrektur, bei dem jede erzeugte Strahlung mit einer individuellen zeitlichen Markierung/Variation bekannter Größe versehen wird, die Änderung der gemessenen Strahlung auf diese typischen zeitlichen Variationen untersucht wird und aus der gefundenen zeitlichen Variation auf den Anteil der Streustrahlung zurückgeschlossen und gegebenenfalls eine entsprechende Korrektur durchgeführt wird. Des Weiteren betrifft die Erfindung auch ein CT-System (1) mit einem Computerprogramm (Prg<SUB>x</SUB>), welches dieses erfindungsgemäße Verfahren durchführt.
申请公布号 DE102006019920(A1) 申请公布日期 2007.11.15
申请号 DE200610019920 申请日期 2006.04.28
申请人 SIEMENS AG 发明人 POPESCU, STEFAN
分类号 A61B6/03;G01N23/06;G06T5/00;H05G1/60;H05G1/70 主分类号 A61B6/03
代理机构 代理人
主权项
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