发明名称 一种逻辑测试的功能覆盖率分析方法
摘要 一种逻辑测试的功能覆盖率分析方法,包括如下步骤:(a)在参考模型中相应的功能分支上插入“探针”;(b)在测试用例的测试过程中执行到“探针”时,调用统计函数把该探针的描述信息记录到统计表中;(c)在当前用例执行完毕后,把统计表的记录有当前测试用例所覆盖的功能分支的记录信息打印到该测试用例的日志文件中;(d)在所有测试用例测试完毕后,依次打开每个测试用例的日志文件,汇总所有测试用例的功能分支的覆盖信息,生成“已测功能分支统计表”;(e)扫描参考模型代码,生成探测点树;(f)比较该“已测功能分支统计表”及该探测点树,获取功能覆盖率信息。本发明的逻辑测试功能覆盖率分析方法,具有操作简单、获得的信息更加可靠及测试点的增删、变更更加灵活的优点。
申请公布号 CN100349132C 申请公布日期 2007.11.14
申请号 CN200510035490.X 申请日期 2005.06.21
申请人 华为技术有限公司 发明人 麻远声
分类号 G06F11/36(2006.01) 主分类号 G06F11/36(2006.01)
代理机构 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 代理人 郭伟刚;蔡晓红
主权项 1、一种逻辑测试的功能覆盖率分析方法,其特征在于,包括如下步骤:(a)在参考模型中相应的功能分支上插入“探针”;(b)在测试用例的测试过程中执行到“探针”时,调用统计函数把当前功能分支的探测点信息记录到统计表中;(c)该测试用例执行完毕后,把统计表的信息打印到该测试用例的日志文件中;(d)在所有测试用例测试完毕后,依次打开每个测试用例的日志文件,汇总所有测试用例覆盖的功能分支的探测点统计信息,生成“已测功能分支”的集合;(e)扫描参考模型代码,生成探测点树;(f)比较“已测功能分支”的集合及该探测点树,获取功能覆盖率信息。
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