发明名称 基板检查用触头、基板检查用夹具及基板检查装置
摘要 本发明的课题在于使基板检查用夹具的组装变得容易。将构成基板检查用触头(22)的第1销体(80)在形成测定端的一端露出于外部的状态下可滑动地插通于第1引导基部(62)的贯穿孔(100),将构成基板检查用触头(22)的压缩螺旋弹簧(84)松动嵌入相对于第1引导基部(62)隔开既定间隔而对置的第2引导基部(64)的贯穿孔(114),另一方面,将第1销体(80)的另一端可滑动地插通于该贯穿孔(114)的同时,在形成外部连接端的另一端露出于外部的状态下插通构成基板检查用触头(22)的第2销体(82)并固定。
申请公布号 CN101071140A 申请公布日期 2007.11.14
申请号 CN200710102915.3 申请日期 2007.05.11
申请人 日本电产丽德株式会社 发明人 广部幸祐;藤野真;加藤穰
分类号 G01R1/04(2006.01);G01R1/06(2006.01);G01R31/02(2006.01);G01R1/14(2006.01) 主分类号 G01R1/04(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 温大鹏
主权项 1.一种基板检查用触头,用于测定电路基板的电特性,是支承在导板(60)上、由导电性材料形成的基板检查用触头(22),所述导板(60)具有隔开既定间隔对置配置的第1引导基部(62)及第2引导基部(64),其特征在于,具备:第1销体(80),成为抵接在上述电路基板(B)上的测定端的一端可滑动地插通于形成在上述第1引导基部(62)上的贯穿孔(100)中,并且,另一端可滑动地插通于形成在上述第2引导基部(64)上的贯穿孔(114)中;第2销体(82),以一端朝向上述第1销体(80)的另一端的方式同轴状地配置,另一端成为外部连接端,并且,插通形成在上述第2引导基部(64)上的上述贯穿孔中而被保持;及压缩螺旋弹簧(84),一端电连接在上述第1销体(80)的另一端,另一端电连接在上述第2销体(82)一端,并且,全长松动嵌入形成在上述第2引导基部(64)上的上述贯穿孔(114)中。
地址 日本京都府京都市