发明名称 |
记忆体组装状态的自动化检查方法 |
摘要 |
本发明是一种记忆体组装状态的自动化检查方法,是在一电子装置中设有一测试程序,该测试程序通过该电子装置所设的双向两线式串列汇流排,侦测该电子装置的主机板的各记忆体插槽所插接的记忆体模组,取得该等记忆体模组的组装状态,且将该组装状态相对应一代码,该代码可由该电子装置的显示器输出,以藉由该代码可轻易地获知各记忆体插槽上所插接的记忆体模组的容量及插接位置是否正确。 |
申请公布号 |
CN100348991C |
申请公布日期 |
2007.11.14 |
申请号 |
CN03155867.4 |
申请日期 |
2003.08.25 |
申请人 |
英业达股份有限公司 |
发明人 |
李永谦 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01);G11C29/00(2006.01);G06F11/10(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01) |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 |
代理人 |
董惠石 |
主权项 |
1、一种记忆体组装状态的自动化检查方法,在一电子装置设有一测试程序,该电子装置执行该测试程序后,依下列步骤处理:通过该电子装置所设的双向两线式串列汇流排,侦测被安装在该电子装置的各记忆体插槽上的记忆体模组,并分别自各记忆体模组上具有串列式规格侦测装置功能的一唯读记忆体,读取得各插接记忆体模组的状态参数;将各插接记忆体模组的状态参数记录成为二进制的一个字节,其中每一位分别用以显示各记忆体模组的位置、大小及种类状态;根据二进制的字节,寻找测试程序所设的一对应代码;及将对应代码显示在该电子装置的显示器上。 |
地址 |
台湾省台北市 |