发明名称 半导体用粘着薄膜,含半导体用粘着薄膜之导线架及使用此导线架之半导体装置
摘要 于支持薄膜之两面上设置粘着剂层的三层构造之粘着薄膜,其粘着剂层系含有(A)玻璃转移温度130~300℃,吸水率3重量%以下,渗出长度在2mm以下的耐热热塑性树脂,(B)环氧树脂及(C)环氧树脂硬化剂之参酚系化合物而成的半导体用粘着薄膜,含半导体用粘着薄膜之导线架及使此含半导体用粘着薄膜之导线架与半导体元件粘着而成的半导体装置。
申请公布号 TWI289591 申请公布日期 2007.11.11
申请号 TW090101163 申请日期 2001.01.18
申请人 日立化成工业股份有限公司 发明人 田边义行;松浦秀一
分类号 C09J163/00(2006.01);C09J179/08(2006.01);C09J7/02(2006.01);H01L23/50(2006.01);H01L21/52(2006.01) 主分类号 C09J163/00(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 1.一种半导体用粘着薄膜,系于支持薄膜之两面上 设有粘着剂层之三层构造之粘着薄膜,其粘着剂层 含有(A)玻璃转移温度为130~300℃,吸水率为3重量%以 下,渗出长度为2mm以下的耐热热塑性树脂,(B)环氧 树脂及(C)环氧树脂硬化剂之参酚系化合物而成。 2.一种半导体用粘着薄膜,系于支持薄膜之两面上 设有粘着剂层之三层构造之粘着薄膜,其粘着剂层 含有(A)玻璃转移温度为130~300℃之耐热热塑性树脂 ,(B)环氧树脂及(C)环氧树脂硬化剂之参酚系化合物 而成的半导体用粘着薄膜,前述三层构造之粘着薄 膜之吸水率为3重量%以下,渗出长度为2mm以下。 3.如申请专利范围第1项之半导体用粘着薄膜,其中 粘着剂层系含有耐热热塑性树脂(A)100重量份,环氧 树脂(B)1~100重量份及环氧树脂硬化剂(C)0.02~120重量 份而成。 4.如申请专利范围第1项之半导体用粘着薄膜,其中 耐热热塑性树脂(A)系聚醯亚胺树脂、聚醯胺醯亚 胺树脂、聚酯醯亚胺树脂、聚醚醯亚胺树脂或聚 醯胺树脂。 5.如申请专利范围第1项之半导体用粘着薄膜,其中 环氧树脂硬化剂(C)系以下述一般式(a) (式中,R1~R10系各自独立的表示氢、碳数1~10之烷基 、碳数5~10之环烷基、芳基或烃基,D表示四价之有 机基)表示的参酚化合物, 其中一般式(a)中之D为 6.如申请专利范围第5项之半导体用粘着薄膜,其中 一般式(a)中之R5系氢或碳数1~10之烷基。 7.如申请专利范围第6项之半导体用粘着薄膜,其中 一般式(a)中之≡D-R5系 8.如申请专利范围第1项之半导体用粘着薄膜,其中 支持薄膜系由聚醯亚胺、聚醯胺、聚、聚苯硫 醚、聚醚醚酮、聚芳香酯及聚碳酸酯而成之群体 选出的绝缘性耐热性树脂薄膜。 图式简单说明: 第1图为本发明之半导体用粘着薄膜之截面图。 第2图为已使用本发明之半导体用粘着薄膜之半导 体装置之截面图。
地址 日本