| 发明名称 | 检测电介质折射率变化的设备和方法 | ||
| 摘要 | 检测电介质折射率变化的设备包括：金属层(300)至少要和电介质(200)相接触；光源(20)发出的横向磁化(TM)偏振光直接照射在金属层上，所以光线在金属层上发生反射；连接工具(10)；检测器(30)接收金属层反射光线并检测此光线的特征。依据本发明，金属层包括铁磁性材料。本发明也涉及了相应方法。 | ||
| 申请公布号 | CN101069087A | 申请公布日期 | 2007.11.07 |
| 申请号 | CN200580019079.1 | 申请日期 | 2005.06.10 |
| 申请人 | 高级科学研究理事机构 | 发明人 | 博亚·赛普维达马丁内兹;盖斯波·阿迈勒斯瑞格;劳拉·M·莱楚格高迈兹;安娜·考勒马丁 |
| 分类号 | G01N21/55(2006.01) | 主分类号 | G01N21/55(2006.01) |
| 代理机构 | 中国商标专利事务所有限公司 | 代理人 | 刘广新 |
| 主权项 | 1.一种检测电介质(200)折射率变化的设备，它包括：至少一个金属层(300)，它被用来和电介质(200)保持接触；至少一个光源(20)，它被用来将横向磁化偏振光导向金属层以便光线能照射到金属层；联接工具(10)，它被用来联结光源(20)和金属层(300)；从而当光线落到金属层的时候就能够在金属层表面激发表面等离子体振子共振；至少一个探测器(31)，它被用来接收越过金属层向下的反射光并且至少检测出光线的一个特性；其特征在于金属层包含铁磁性材料。 | ||
| 地址 | 西班牙马德里 | ||