| 发明名称 | 模块、电子设备和评估工具 | ||
| 摘要 | 模块(100)具有测试控制器(140)，用于评估功能块(120)。测试控制器(140)包括第一寄存器(142)，耦合在来自多个引脚(160)的输入引脚(162)和输出引脚(164)之间；并包括耦合到第一寄存器(142)的第二寄存器(144)，用于响应来自解码器(170)的更新信号捕获第一寄存器(142)的内容的更新。第二寄存器(144)还配置用于产生评估控制信号(145)。测试控制器还包括包含多个逻辑门(180)和第一逻辑门(182)的专用控制电路。多个逻辑门配置用于对第一寄存器(142)的内容进行解码，并给第一逻辑门(182)提供结果选通信号用于阻止第二寄存器(144)的更新。因此，专用控制电路能在例如另一模块的评估方式期间防止在模块(100)中不希望有的改变。 | ||
| 申请公布号 | CN100347560C | 申请公布日期 | 2007.11.07 |
| 申请号 | CN03819492.9 | 申请日期 | 2003.07.17 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | T·F·瓦耶斯 |
| 分类号 | G01R31/3185(2006.01) | 主分类号 | G01R31/3185(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 杨凯;张志醒 |
| 主权项 | 1.一种模块，包括功能块和用于在所述模块的评估方式下控制所述功能块的测试控制器，所述测试控制器包括：多个引脚，包含输入引脚和输出引脚；第一寄存器，耦合在所述输入引脚和所述输出引脚之间，用于通过所述输入引脚接收位模式，并通过所述输出引脚输出所述位模式；以及第二寄存器，耦合到第一寄存器，用于响应更新信号而捕获所述位模式；其特征在于，所述测试控制器还包括专用控制电路，用于响应所述位模式而阻止所述更新信号。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||