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发明名称 TESTING OF AN INTEGRATED CIRCUIT WITH A PLURALITY OF CLOCK DOMAINS
摘要
申请公布号 EP1851560(A1) 申请公布日期 2007.11.07
申请号 EP20060710860 申请日期 2006.02.09
申请人 NXP B.V. 发明人 WAAYERS, THOMAS F.;MORREN, RICHARD
分类号 G01R31/3185 主分类号 G01R31/3185
代理机构 代理人
主权项
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