发明名称 瑕疵检查装置及瑕疵检查方法
摘要 本发明系以提供一种瑕疵检查装置及瑕疵检查方法,可提高检查区域端部之瑕疵检查的精度,作为课题。在解决手段上,光源1A, 1B,相互以照射区域(检查区域)之端部形成叠合的方式,使照射光LA1,LB1个别作照射。摄影装置2接受正反射光LA2,LB2并产生个别对应于光源1A,1B的2个画像。主控制部3将2个画像作合成并判定瑕疵的有无。藉由照射光LA1,LB1从互异的方向对被检查面A作照射,在各画像中表示瑕疵区域之位置会有些微的偏离。因而,在各画像中即使表示瑕疵区域的面积很小,藉由将2个画像作叠合,在合成后的画像中表示该瑕疵部位区域的面积即会变大。经由此,可以提高检查区域端部之瑕疵检测的精度。
申请公布号 TW200741194 申请公布日期 2007.11.01
申请号 TW096108107 申请日期 2007.03.09
申请人 欧姆龙股份有限公司 发明人 冈部浩史;金谷义宏;松本俊彦
分类号 G01N21/88(2006.01) 主分类号 G01N21/88(2006.01)
代理机构 代理人 何金涂;丁国隆
主权项
地址 日本