| 主权项 |
1.一种可校正印刷电路板侦测孔位之检测装置;其 包含有: 一机台,机台上设有一框体及一可前后滑移之置板 平台,其中框体上设有一光学尺; 一光学检测单元,该可上、下对焦之光学检测单元 可于框体上左、右滑移; 一平台定位单元,该平台定位单元系设于置板平台 端缘,其设有复数背板,且背板系呈间隔设置,相邻 背板之宽度小于光学检测单元每一扫瞄区间之宽 度,再者背板上形成有复数等距之对位孔; 藉此,透过光学尺能准确量测光学检测单元移动距 离,以及配合平台定位单元的对位孔的定値回馈, 而能有效计算量测的补偿校正値,而组构成一可校 正机械误差与影像误差的可校正印刷电路板侦测 孔位之检测装置者。 2.如申请专利范围第1项所示之可校正印刷电路板 侦测孔位之检测装置,其中,光学检测单元具有一 光源接收器,并于光源接收器下方设有一倍率镜头 ,且于倍率镜头上套设有一聚焦框架,聚焦框架上 于倍率镜头两侧分设有一光源发射器,该两光源发 射器之光源可聚焦于置板平台上之印刷电路板面, 并反射经倍率镜头后由光源接收器接收。 3.一种可校正印刷电路板侦测孔位之检测方法;其 包含有: a.设定光学检测单元每一扫瞄区间宽度为W; b.设定相邻扫瞄区间之重叠区域,而下一扫瞄区间 之扫瞄起始点为上一扫瞄区间宽度减去该重叠区 域,以避免钻孔之侦测遗露; c.取得光学尺量测光学检测单元各扫瞄区间之扫 瞄起始点的移动距离为K1,依此类推量测第n扫瞄区 间之扫瞄起始点的移动距离为Kn-1; d.取得光学检测单元侦测之第一、二扫瞄区间的 重叠区域之对位孔至对应第一扫瞄区间扫瞄起始 点的影像距离为N1,依此类推侦测第n-1、n扫瞄区间 的重叠区域之对位孔至对应第n-1扫瞄区间扫瞄起 始点为经校正后的影像距离为Nn-1; e.取得光学检测单元侦测之第一、二扫瞄区间的 重叠区域之对位孔至对应第二扫瞄区间扫瞄起始 点的影像距离为M1,依此类推侦测之第n-1、n扫瞄区 间的重叠区域之对位孔至对应第n扫瞄区间扫瞄起 始点的影像距离为Mn-1; f.计算第n次扫瞄区间内所有钻孔的孔位距离Xn之 校正孔位距离XnS: XnS=Xn+(Nn-1-Kn-1-Mn-1)。 4.如申请专利范围第3项所示之可校正印刷电路板 侦测孔位之检测方法,其中,相邻扫瞄区间之重叠 区域等于印刷电路板中已知最大径之钻孔直径。 图式简单说明: 第一图:系本发明检测装置之外观示意图。 第二图:系本发明检测装置之局部放大示意图,用 以说明其光学检测单元之状态及其相对关系。 第三图:系本发明检测装置之另一局部放大示意图 ,其揭示平台定位单元之状态及其相关位置。 第四图:系本发明正常检测之路径示意图。 第五图:系本发明之实际检测示意图。 第六图:系本发明实际检测路径之局部放大示意图 ,其显示本发明之校正设定状态。 |
