发明名称 半导体装置
摘要 为求使CMOS电路的上升及下降动作速度相同,基于其载子迁移率的差异之考量,必须使p型MOS电晶体与n型MOS电晶体的面积相异。此面积的不平衡会妨碍半导体装置的集积度提高。本发明采取NMOS电晶体与PMOS电晶体在(100)面及(110)面两者具有通道区域的三维构造,并以两电晶体的通道区域及闸绝缘膜的面积互为相等的方式构成。藉此,使闸绝缘膜等的面积互为相等,同时能使闸容量亦为相等。再者,于基板上之集积度与知技术比较,能提高为2倍。
申请公布号 TW200742084 申请公布日期 2007.11.01
申请号 TW095148125 申请日期 2006.12.21
申请人 国立大学法人 东北大学;财团法人国际科学振兴财团 发明人 大见忠弘;寺本章伸;渡边一史
分类号 H01L29/786(2006.01);H01L21/8238(2006.01) 主分类号 H01L29/786(2006.01)
代理机构 代理人 周良谋;周良吉
主权项
地址 日本
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