发明名称 用于形成高纯度奈米管薄膜之可旋敷液体
摘要 本发明系揭示一些可旋敷液体及应用技术,其可用于形成具受控性质之奈米管薄膜或织物。用于形成奈米管薄膜之可旋敷液体包含含有受控浓度的纯化奈米管之液体介质,其中受控浓度系足以形成具预选密度及均匀性之奈米管织物或薄膜,并且其中可旋敷液体含有小于1×1018原子/立方公分之金属不纯物。可旋敷液体实质上不含具有直径大于约500奈米之颗粒不纯物。
申请公布号 TWI289147 申请公布日期 2007.11.01
申请号 TW094118088 申请日期 2005.06.02
申请人 奈特洛公司 发明人 盛洛虎;希罗麦;卢玛斯;沙贝特
分类号 C08G63/48(2006.01);C08L67/00(2006.01);C09C1/56(2006.01);D01F9/12(2006.01) 主分类号 C08G63/48(2006.01)
代理机构 代理人 黄庆源 台北市大安区敦化南路1段245号8楼;蔡中曾 台北市大安区敦化南路1段245号8楼
主权项 1.一种用于形成奈米管薄膜之可旋敷液体,其包含: 含有受控浓度的纯化奈米管之液体介质,其中该受 控浓度系足以形成具预选密度及均匀性之奈米管 织物或薄膜,并且其中该可旋敷液体含有小于11018 原子/立方公分之金属不纯物。 2.如申请专利范围第1项之可旋敷液体,其中该可旋 敷液体含有小于约11015原子/立方公分之金属不纯 物。 3.如申请专利范围第1项之可旋敷液体,其中该可旋 敷液体含有小于约151010原子/立方公分之金属不 纯物。 4.如申请专利范围第1项之可旋敷液体,其中该可旋 敷液体含有小于约11018原子/立方公分之重金属不 纯物。 5.如申请专利范围第1项之可旋敷液体,其中该可旋 敷液体含有小于约151010原子/立方公分之重金属 不纯物。 6.如申请专利范围第1项之可旋敷液体,其中该可旋 敷液体含有小于约11018原子/立方公分之第I族及 第II族元素不纯物。 7.如申请专利范围第1项之可旋敷液体,其中该可旋 敷液体含有小于约151010原子/立方公分之第I族及 第II族元素不纯物。 8.如申请专利范围第1项之可旋敷液体,其中该可旋 敷液体含有小于约11018原子/立方公分之过渡金属 不纯物。 9.如申请专利范围第1项之可旋敷液体,其中该可旋 敷液体含有小于约151010原子/立方公分之过渡金 属不纯物。 10.如申请专利范围第1项之可旋敷液体,其中该可 旋敷液体实质上不含具有直径大于约500奈米之颗 粒不纯物。 11.如申请专利范围第1项之可旋敷液体,其中该可 旋敷液体实质上不含具有直径大于约300奈米之颗 粒不纯物。 12.如申请专利范围第1项之可旋敷液体,其中该可 旋敷液体实质上不含具有直径大于约45奈米之颗 粒不纯物。 13.如申请专利范围第1项之可旋敷液体,其中该奈 米管系均匀地分布于该液体介质中,而未有明显的 沉淀或凝聚情形。 14.如申请专利范围第1项之可旋敷液体,其中该液 体介质为非卤素溶剂。 15.如申请专利范围第1项之可旋敷液体,其中该液 体介质为非水性溶剂。 16.如申请专利范围第1项之可旋敷液体,其中该液 体介质系选用可与电子制造程序相容者。 17.如申请专利范围第1项之可旋敷液体,其中该液 体介质包含乳酸乙酯。 18.如申请专利范围第1项之可旋敷液体,其中该可 旋敷液体系不含表面活性剂。 19.如申请专利范围第1项之可旋敷液体,其中该奈 米管包含导电性奈米管。 20.如申请专利范围第1项之可旋敷液体,其中该奈 米管系为单壁奈米管。 21.一种富勒烯(fullerene)组成物,其包含: 含有富勒烯分布之液体介质,其中该富勒烯保持彼 此分离而不沉淀或凝聚达一段足以将富勒烯组成 物施敷于一表面之时间,并且其中该组成物含有小 于11018原子/立方公分之金属不纯物。 22.如申请专利范围第21项之富勒烯组成物,其中该 组成物含有小于约11018原子/立方公分之重金属不 纯物。 23.如申请专利范围第21项之富勒烯组成物,其中该 组成物含有小于约11018原子/立方公分之第I族及 第II族元素不纯物。 24.如申请专利范围第21项之富勒烯组成物,其中该 组成物含有小于约11018原子/立方公分之过渡金属 不纯物。 25.如申请专利范围第21项之富勒烯组成物,其中该 组成物含有小于约151010原子/立方公分之重金属 不纯物。 26.如申请专利范围第21项之富勒烯组成物,其中该 组成物含有小于约151010原子/立方公分之第I族及 第II族元素不纯物。 27.如申请专利范围第21项之富勒烯组成物,其中该 组成物含有小于约151010原子/立方公分之过渡金 属不纯物。 28.一种用于形成奈米管薄膜之可旋敷液体,其包含 : 含有奈米管分布之液体介质,其中该奈米管保持彼 此分离而不沉淀或凝聚达一段足以将可旋敷液体 施敷于一表面之时间,并且其中该可旋敷液体实质 上不含具有直径大于约500奈米之颗粒不纯物。 29.如申请专利范围第28项之可旋敷液体,其中该可 旋敷液体实质上不含具有直径大于约300奈米之颗 粒不纯物。 30.如申请专利范围第28项之可旋敷液体,其中该可 旋敷液体实质上不含具有直径大于约100奈米之颗 粒不纯物。 31.如申请专利范围第28项之可旋敷液体,其中该可 旋敷液体实质上不含具有直径大于约45奈米之颗 粒不纯物。 32.如申请专利范围第28项之可旋敷液体,其中该可 旋敷液体含有小于约11018原子/立方公分之金属不 纯物。 33.如申请专利范围第28项之可旋敷液体,其中该可 旋敷液体含有小于约151010原子/立方公分之金属 不纯物。 34.如申请专利范围第28项之可旋敷液体,其中该可 旋敷液体含有小于约11018原子/立方公分之过渡金 属不纯物。 35.如申请专利范围第28项之可旋敷液体,其中该可 旋敷液体含有小于约151010原子/立方公分之过渡 金属不纯物。 36.如申请专利范围第28项之可旋敷液体,其中该可 旋敷液体含有小于约11018原子/立方公分之重金属 不纯物。 37.如申请专利范围第28项之可旋敷液体,其中该可 旋敷液体含有小于约151010原子/立方公分之重金 属不纯物。 38.如申请专利范围第28项之可旋敷液体,其中该可 旋敷液体含有小于约101017原子/立方公分之第I族 及第II族元素不纯物。 39.如申请专利范围第28项之可旋敷液体,其中该可 旋敷液体含有小于约151010原子/立方公分之第I族 及第II族元素不纯物。 40.如申请专利范围第28项之可旋敷液体,其中该液 体介质为非卤素溶剂。 41.如申请专利范围第28项之可旋敷液体,其中该液 体介质为非水性溶剂。 42.如申请专利范围第28项之可旋敷液体,其中该液 体介质系选用可与电子制造程序相容者。 43.如申请专利范围第28项之可旋敷液体,其中该液 体介质包含乳酸乙酯。 44.如申请专利范围第28项之可旋敷液体,其中该可 旋敷液体系不含表面活性剂。 45.如申请专利范围第28项之可旋敷液体,其中该奈 米管包含导电性奈米管。 46.如申请专利范围第28项之可旋敷液体,其中该奈 米管系为单壁奈米管。 图式简单说明: 图1显示未纯化的奈米管织物之典型扫描式电子显 微照相图(SEM);及 图2显示纯化的奈米管织物之典型SEM影像。
地址 美国