发明名称 具多厚度绝缘层上半导体的结构及其形成方法
摘要 本发明提供一种具多厚度的绝缘层上半导体的结构及其形成方法,提供一晶圆,此晶圆具有重叠位于基材上的埋入绝缘层上的一半导体膜(具有至少两区域)。覆盖半导体膜至少两区域中的一者,以提供具有一第一厚度的至少一半导体膜覆盖部分,保留暴露半导体膜至少两区域中的至少一者,以提供具有第一厚度的至少一半导体膜暴露部分。蚀刻上述至少一暴露半导体膜部分的至少一部分,以提供至少一部分蚀刻、暴露半导体膜部分,接着进行部分氧化,以提供至少一部分氧化、部分蚀刻、暴露半导体膜部分。去除此蚀刻、暴露半导体膜的氧化部分,保留具有小于第一厚度的第二厚度的半导体膜的一部分。
申请公布号 CN100346472C 申请公布日期 2007.10.31
申请号 CN200410008061.9 申请日期 2004.03.09
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 杨富量;陈豪育;杨育佳;卡罗司;胡正明
分类号 H01L21/84(2006.01);H01L21/336(2006.01);H01L29/78(2006.01);H01L27/12(2006.01) 主分类号 H01L21/84(2006.01)
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人 王琤
主权项 1、一种形成多厚度绝缘层上半导体的方法,至少包含:提供一晶圆,该晶圆至少包含一半导体膜位于一埋入绝缘层上,该埋入绝缘层位于一基材上,且该半导体膜包含至少两区域;覆盖该至少两区域的至少一者中的该半导体膜,以提供具有一第一厚度的至少一半导体膜被覆盖部分,且该至少两区域中的另一区域的半导体膜被保留,以提供具有该第一厚度的至少一半导体膜暴露部分;蚀刻该至少一半导体膜暴露部分的至少一部分,以形成一被部分蚀刻的半导体膜暴露部分;氧化该被部分蚀刻的半导体膜暴露部分的至少一部分,以提供至少一被部分氧化以及被部分蚀刻的半导体膜暴露部分;以及去除该被氧化的半导体膜暴露部分,以保留该半导体膜的一部分具有少于该第一厚度的一第二厚度,而形成该多厚度绝缘层上半导体。
地址 中国台湾