发明名称 |
一种二维位移测量方法及二维位移传感器 |
摘要 |
一种二维位移测量方法,根据惠斯登电桥电路测试原理,将连接到电桥中的电阻丝布置成直线形和圆弧形,直线形电阻丝用于测量直线形位移量,圆弧形电阻丝用于测量圆弧的弧长变化量,再根据弧长与半径的关系计算出测点绕圆心的旋转角度;通过测量被测点在极坐标系统中位移变化量的方法来实现二维位移测量。二维位移传感器,包括组成测试电桥的直线形电阻丝和圆弧形电阻丝,两者被安装到一个可以绕固定轴旋转的结构中;还包括数据传输线,其从带孔圆轴内部引出,仪器内部设有维持仪器重心始终通过其旋转中心轴的动态自平衡装置。本发明可精确的测量测点的二维位移,结构简单,测量精度高。 |
申请公布号 |
CN101063621A |
申请公布日期 |
2007.10.31 |
申请号 |
CN200610026294.0 |
申请日期 |
2006.04.29 |
申请人 |
同济大学 |
发明人 |
胡敬礼;李炳生;陈以一;范佩芳;黄永嘉;胡志凌;王伟 |
分类号 |
G01D5/12(2006.01);G01B7/02(2006.01);G01B7/30(2006.01) |
主分类号 |
G01D5/12(2006.01) |
代理机构 |
上海智信专利代理有限公司 |
代理人 |
吴林松 |
主权项 |
1.一种二维位移测量方法,其特征是:根据惠斯登电桥电路测试原理,将连接到电桥中的电阻丝布置成直线形和圆弧形,直线形电阻丝用于测量直线形位移量,圆弧形电阻丝用于测量圆弧的弧长变化量,再根据弧长与半径的关系计算出测点绕圆心的旋转角度。 |
地址 |
200092上海市四平路1239号 |