发明名称 |
光学传感器和以光学方式检查表面的方法 |
摘要 |
采用用于探测光滑表面上的点状、线状或者面状缺陷的光学传感器,所述光学传感器包含:a)远心激光扫描仪(12),具有:激光器(1),用于几乎垂直地照射一个光滑的表面(5)、扫描镜(2)、远心的光学系统(4),用于引导照射光束和检测光束;b)探测单元(11),具有:检测光学系统(8)、中心光阑(9),所述中心光阑沿向着远心的激光扫描仪(4)的方向定位在所述检测光学系统的附近、高灵敏度的光电倍增器(6),用于探测从光滑表面(5)上的缺陷发出的散射光,前置于所述光电倍增器(6)的狭缝光阑(7)。应用/产品:光学检查表面的检验设备。 |
申请公布号 |
CN101063663A |
申请公布日期 |
2007.10.31 |
申请号 |
CN200710101110.7 |
申请日期 |
2007.04.26 |
申请人 |
西门子公司 |
发明人 |
W·海恩;D·斯普里格尔;M·斯托克曼;M·韦伯 |
分类号 |
G01N21/958(2006.01);G01N21/88(2006.01);G01M11/02(2006.01) |
主分类号 |
G01N21/958(2006.01) |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
刘春元;王忠忠 |
主权项 |
1.用于探测光滑表面上的点状、线状或者面状缺陷的光学传感器,所述光学传感器包含:a)远心激光扫描仪(12),具有-激光器(1),用于几乎垂直地照射一个光滑的表面(5),-扫描镜(2),-远心的光学系统(4),用于引导照射光束和检测光束,b)探测单元(11),具有-检测光学系统(8),-中心光阑(9),所述中心光阑沿向着远心的激光扫描仪(4)的方向定位在所述检测光学系统的附近,-高灵敏度的光电倍增器(6),用于探测从光滑表面(5)上的缺陷发出的散射光,-前置于所述光电倍增器(6)的狭缝光阑(7)。 |
地址 |
德国慕尼黑 |