发明名称 测距装置
摘要 本发明具有根据由至少一对积分型的受光元件4接收被摄体的光而得到的被摄体像信号对被摄体距离进行测距的第1测距模式和根据由投光光源14向被摄体投射光并由恒定光除去部6从上述被摄体像信号中除去恒定光成分的像信号对被摄体距离进行测距的第2测距模式,进行测距动作时,用上述第2测距模式经过指定时间而动作,并根据由此所得到的像信号推算主要被摄体,同时在继续取得被摄体像信号时选择积分控制使用的受光传感器的检测区域。
申请公布号 CN100346225C 申请公布日期 2007.10.31
申请号 CN00117940.3 申请日期 2000.06.01
申请人 奥林巴斯株式会社 发明人 中田康一;金田一刚史
分类号 G03B13/18(2006.01) 主分类号 G03B13/18(2006.01)
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 于静
主权项 1.一种测距装置,其特征在于:具有接收被摄体的光从而得到被摄体像信号的至少一对积分型受光传感器,上述至少一对积分型受光传感器的每一个包含多个像素;向被摄体投射光的投光部;恒定光除去部,在由上述投光部向上述被摄体投射光期间,通过从由上述至少一对积分型受光传感器产生的第1被摄体像信号中除去恒定光成分产生像信号;第1测距部,通过对于由上述恒定光除去部所产生的像信号进行的第1相位差操作,对被摄体距离进行测距;检测区域设定部,使上述第1测距部的测距操作经过指定时间,并设定与包含通过上述第1测距部的操作所得到的反射信号成分的积分信号的最大成分值的指定积分值范围对应的检测区域,和第2测距部,在上述投光部不向上述被摄体投射光期间,根据上述一对积分型受光传感器产生的第2被摄体像信号,通过对于由上述积分型受光传感器对由上述检测区域设定部设定的检测区域进行积分得到的结果进行第2相位差操作,对被摄体距离进行测距;其中在上述第1测距部操作之后上述第2测距部操作,并且检测区域由上述检测区域设定部设定。
地址 日本东京