发明名称 用于晶片的湿式处理的设备及方法
摘要 一种用于盘状基板的湿式处理的设备,包括一第一板(10),其具有能够和一要被处理的盘状基板重叠的尺寸和形状;夹持装置(22),用于夹持一隔0.2至5mm的距离平行于该第一板的盘状基板(W);旋转装置(37),用于使该盘状基板(W)绕着一基本垂直于该第一板的旋转轴线(A)进行旋转;第一分配装置,其在第一间隙中具有一第一分配开口(16),用于在进行处理时将流体引入该第一板(10)与一盘状基板(W)间的第一间隙(11);以及移位装置(34),用于将该第一分配开口相对于该旋转轴线的位置从一第一位置(P1)移动至一第二位置(P2),其中该第一位置(P1)到该旋转轴线(A)的距离小于该第二位置(P2)到该旋转轴线(A)的距离。此外,一种相关的方法亦在此加以公开。
申请公布号 CN101065828A 申请公布日期 2007.10.31
申请号 CN200580040173.5 申请日期 2005.11.15
申请人 SEZ股份公司 发明人 H.奥科恩-施密特
分类号 H01L21/00(2006.01) 主分类号 H01L21/00(2006.01)
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 朱德强
主权项 1.一种用于盘状基板的湿式处理的设备,包括:第一板(10),其具有能够和要被处理的盘状基板重叠的尺寸和形状;夹持装置(22),其用于夹持隔0.2至5mm的距离平行于该第一板的盘状基板(W);旋转装置(37),其用于使该盘状基板(W)绕着一基本垂直于该第一板的旋转轴线(A)进行旋转;第一分配装置(14),其在笫一间隙中具有第一分配开口(16),用于在盘状基板(W)被处理时将流体引入该第一板与盘状基板(W)之间的第一间隙(11);移位装置(34),其用于将该第一分配开口的相对于该旋转轴线(A)的位置从第一位置(P1)移动至第二位置(P2),其中该第一位置到该旋转轴线(A)的距离小于该第二位置(P2)到该旋转轴线(A)的距离。
地址 奥地利菲拉赫