一种实现芯片测试的方法及装置

摘要

本发明公开了一种实现芯片测试的方法及装置，用以解决现有技术中存在测试成本高且测试不灵活的问题。本发明方法包括：接收待测芯片的引脚信号；在不同时间，从接收到的引脚信号中选择不同引脚信号；对选择出的引脚信号进行测试。本发明还公开了一种实现芯片测试的装置。本发明由于采用了一种实现芯片测试的方法，精简了测试过程的工作量，采用这种方法设计的装置可以很灵活的对不同芯片待测引脚进行测试，提高测试工作的效率，简化测试工作的复杂程度。

主权项

1、一种芯片测试装置，其特征在于，该装置包括：多路选择单元，用于从输入的待测芯片引脚信号中选择引脚信号输出；信号测试单元，用于对所述多路选择单元选择输出的引脚信号进行测试。