| 摘要 |
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Messsystem und ein Verfahren zur Bestimmung spektrometrischer Messergebnisse mit hoher Genauigkeit. Das erfindungsgemäße spektrometrische Messsystem mit Kompensation von Falschlicht besteht aus mindestens einer Strahlungsquelle, mindestens einem Eintrittsspalt, einem Dispersionselement und einem Detektor, mit linear oder matrixförmig in einer oder mehreren Ebenen angeordneten Detektorelementen. Der Detektor weist dabei auf seinen Detektorelementen eine regelmäßige Verteilung mindestens zweier unterschiedlicher, wellenlängenselektiver Filter aus. Obwohl hierbei Detektoren aus Foto- und Videoanwendungen Verwendung finden, ist die Anordnung der Erfindung nicht auf den sichtbaren Spektralbereich begrenzt. Falls erforderlich, können im letzten Schritt der Fertigung der Farbkamera die Farbfilter auf den Pixeln zum Teil weggelassen oder modifiziert werden. Es ist aber auch möglich, andere Typen von Detektoren zu verwenden, bei denen die wellenlängenselektiven Filter und die zugeordneten Detektoren in mehreren Ebenen hintereinander angeordnet sind, bei denen jedem einzelnen Bildpunkt die vollen Farbinformationen zur Verfügung stehen.
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