发明名称 |
选择幸存路径累计度量位宽并防止该度量溢出的方法 |
摘要 |
本发明提供了一种选择幸存路径累计度量位宽并防止幸存路径累计度量溢出的方法,包括:分支度量值正数化处理步骤,其通过在分支度量上加上一个统一的正值,使后面计算得到的累计度量值恒定为正数;选择幸存路径存贮合理位宽w_dis的步骤;以及,确定防止累计度量溢出的最佳减数的步骤。采用本发明所述方法设计出的电路,与现有常用的查找最大值、最小值技术相比,在电路设计上极为简单,相应电路规模也较小,克服常规电路需要级联许多比较选择器的缺点,减少了关键路径的长度,能使解码器的运行效率得到极大提高,在消费类芯片中,大规模生产时能产生非常可观的效果。 |
申请公布号 |
CN101060340A |
申请公布日期 |
2007.10.24 |
申请号 |
CN200710100502.1 |
申请日期 |
2007.04.04 |
申请人 |
中兴通讯股份有限公司 |
发明人 |
陈晓华 |
分类号 |
H03M13/41(2006.01) |
主分类号 |
H03M13/41(2006.01) |
代理机构 |
北京中原华和知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
寿宁;张华辉 |
主权项 |
1、一种选择幸存路径累计度量位宽并防止幸存路径累计度量溢出的方法,其特征在于包括:分支度量值正数化处理步骤,其通过在分支度量上加上一个统一的正值,使后面计算得到的累计度量值恒定为正数;选择幸存路径存贮合理位宽w_dis的步骤;以及确定防止累计度量溢出的最佳减数的步骤。 |
地址 |
518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦 |