发明名称 |
沉陷铜电极电化学微流控芯片的制备方法 |
摘要 |
一种沉陷Cu电极电化学微流控芯片的制备方法,属于聚合物芯片制作技术领域和分析检测技术领域,用于电化学微流控芯片的制作。其方法是利用微通道模具热压聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)基片获得微通道;微电极模具热压另一片PMMA获得微电极沉陷,在此PMMA上溅射Cu,利用套刻和湿法腐蚀工艺制作出沉陷的Cu微电极;采用热键合的方式将两片PMMA封接,获得沉陷Cu电极电化学微流控芯片。本发明的效果和益处是:采用热压、溅射、套刻和湿法腐蚀的方法获得沉陷的Cu电极,将Cu电极集成于微流控芯片上,提高了芯片制作的成品率,同时采用Cu作为电化学检测的工作电极材料大大降低了芯片成本。此类芯片可广泛应用于生化分析中的糖类检测。 |
申请公布号 |
CN100344964C |
申请公布日期 |
2007.10.24 |
申请号 |
CN200410082842.2 |
申请日期 |
2004.12.01 |
申请人 |
大连理工大学 |
发明人 |
罗怡;王晓东;刘军山;刘冲;王立鼎;杜立群 |
分类号 |
G01N27/327(2006.01);G01N33/50(2006.01);G01N27/30(2006.01);G01N27/416(2006.01) |
主分类号 |
G01N27/327(2006.01) |
代理机构 |
大连理工大学专利中心 |
代理人 |
侯明远 |
主权项 |
1.一种沉陷铜电极电化学微流控芯片的制备方法,其特征在于包括如下步骤:(1)利用光刻、硅腐蚀或UV-LIGA工艺将微通道和微电极图形以及对准标记点转移到硅片和金属片上,获得热压模具;(2)采用热压的方法将微通道复制到PMMA基片上,热压温度100℃,压力0.7Mpa,保持时间6min;(3)采用热压后溅射、套刻和湿法腐蚀在PMMA上获得沉陷微电极:热压温度100℃,压力1.4Mpa,保持时间6min;利用射频溅射台溅射200nm厚的Cu;旋涂光刻胶,利用PMMA和掩膜上的标记点实现对准套刻;在5%(wt)硝酸溶液中刻蚀Cu;采用二次曝光、显影的方法去除Cu微电极表面的光刻胶,获得沉陷的Cu微电极;(4)利用显微视觉对准带有微通道和微电极的两片PMMA上的标记点,从而有效保障微通道出口与微电极之间的距离,采用热键合的方式将带有微通道和微电极的两片PMMA封接,得到芯片,键合温度100℃,压力0.7Mpa,保持时间10min。 |
地址 |
116024辽宁省大连市甘井子区凌工路2号 |