| 发明名称 | 静默电流侦测方法及其装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种静默电流侦测方法及其装置，是利用一般半导体材料具有能带间隙(energy bandgap)的特性。因此，无论该半导体组件是否被驱动，皆可判断该半导体组件或其驱动控制电路的状态。除了发光二极管之外，本发明的静默电流侦测方法及其装置尚可适用其它以具有能带间隙材料制成的组件。 | ||
| 申请公布号 | CN101059537A | 申请公布日期 | 2007.10.24 |
| 申请号 | CN200610076725.4 | 申请日期 | 2006.04.18 |
| 申请人 | 聚积科技股份有限公司 | 发明人 | 王弘宗 |
| 分类号 | G01R19/00(2006.01);G01R31/00(2006.01);G01R31/02(2006.01) | 主分类号 | G01R19/00(2006.01) |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人 | 逯长明 |
| 主权项 | 1.一种静默电流侦测装置，其特征在于，包括：一半导体组件，具有能带间隙，并具有一第一接点及一第二接点；一固定电源，于正常状态下连接至该半导体组件的第一接点，以提供一适当电位；一驱动控制电路，具有一控制输出端，该控制输出端于正常状态下连接至该半导体组件的第二接点，以驱动该半导体组件；一电位量测器，连接至该驱动控制电路的输出端；据此，无论该半导体组件是否被驱动，皆可通过该电位量测器的量测结果，以判断该半导体组件或其驱动控制电路的状态。 | ||
| 地址 | 台湾省新竹市埔顶路18号6F之4 | ||