| 摘要 |
L'invention concerne un procédé de détermination de la position angulaire d'un projecteur (10) pivotant au moyen d'un dispositif de mesure qui comporte un élément ferromagnétique (32) qui émet un champ magnétique (B), des premiers moyens de mesure (34A) du champ magnétique local (B) en projection sur un premier axe, l'élément ferromagnétique (32) étant monté pivotant par rapport aux premiers moyens de mesure (34A), et une unité électronique de traitement (35), le procédé comportant une étape de mesure, et une deuxième étape de traitement au cours de laquelle l'unité électronique de traitement (35) calcule la position angulaire du projecteur, caractérisé en ce que lors de l'étape de mesure, l'intensité du champ magnétique local (B) est mesurée en projection sur un deuxième axe de mesure (M2) orthogonal au premier axe de mesure (M1), et en ce que lors de la deuxième étape de traitement, l'unité électronique de traitement (35) calcule une valeur représentative de l'angle du champ magnétique local (B) par rapport au premier axe de mesure (M1).L'invention concerne aussi un dispositif de mesure pour la mise en oeuvre du procédé selon l'invention.
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