发明名称 |
Halbleiterbauteil mit einem Kunststoffgehäuse und Verfahren zu seiner Herstellung |
摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Halbleiterbauteil (1) und ein Verfahren zu dessen Herstellung. Bei Halbleiterbauteilen (1) kann es unter Belastung zur Delamination der Kunststoffgehäusemasse (9) vom Schaltungsträger (11) kommen, was zum Ausfall des Halbleiterbauteils (11) führen kann. Zur besseren Haftung ist zwischen dem Schaltungsträger (11) und der Kunststoffgehäusemasse (9) eine haftvermittelnde Schicht (10) angeordnet, die in einer Polymermatrix (5) eingebettete mineralisch-keramische Nanopartikel (6) aufweist. |
申请公布号 |
DE102006017115(A1) |
申请公布日期 |
2007.10.18 |
申请号 |
DE20061017115 |
申请日期 |
2006.04.10 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
BRUNNBAUER, MARKUS;MAHLER, JOACHIM;FUERGUT, EDWARD;BAUER, MICHAEL |
分类号 |
H01L23/16;H01L21/56 |
主分类号 |
H01L23/16 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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