| 摘要 |
Ein integrierter Halbleiterspeicher (100) weist eine Datenerzeugerschaltung (60) auf, mit der Datenwerte eines Datensatzes invertiert an Datenanschlüsse (D0, ..., D7) des integrierten Halbleiterspeichers erzeugt werden. Bei einem Auslesevorgang werden Datenwerte von Daten eines ersten Datensatzes (DS1) mit Datenwerten von Daten eines zweiten Datensatzes (DS2), die bei einer Taktperiode eines Taktsignals (CLK) vor dem Auslesen des ersten Datensatzes (DS1) aus dem Speicherzellenfeld (10) ausgelesen worden sind, verglichen. Zusätzlich wird der Zustand eines Steuersignals (DBI1), das einen 1-Zustand aufweist, wenn die Datenwerte des zweiten Datensatzes (DS2) an Datenanschlüssen (D0, ..., D7) invertiert ausgegeben wurden, bei der Entscheidung zur Dateninvertierung berücksichtigt. Wenn sich mehr als die Hälfte der Datenwerte des ersten Datensatzes (DS1) von den Datenwerten des zweiten Datensatzes (D2) unterscheiden und das Steuersignal (DBI1) den 1-Zustand aufweist, werden die Datenwerte des ersten Datensatzes (DS1) an den Datenanschlüssen (D0, ..., D7) invertiert erzeugt. Dadurch wird es möglich, Umladevorgänge auf Datenleitungen zu reduzieren.
|
