Testbetrieb einer Multiport-Speichervorrichtung

摘要

Eine Halbleiterspeichervorrichtung weist Folgendes auf: eine Vielzahl von Ports; eine Vielzahl von Banken; eine Vielzahl von globalen Datenbussen; erste und zweite I/O-Steuereinrichtungen; und eine Test-Eingabe/Ausgabe-(I/O-)Steuereinrichtung. Die Ports führen eine serielle I/O-Datenübertragung durch. Die Banken führen eine parallele I/O-Datenübertragung mit den Ports durch. Die globalen Datenbusse sind zur Übertragung von Daten zwischen den Ports und den Banken eingesetzt. Die erste I/O-Steuereinrichtung steuert eine serielle Datenübertragung zwischen den Ports und externen Vorrichtungen. Die zweite I/O-Steuereinrichtung steuert eine parallele Datenübertragung zwischen den Ports und den globalen Bussen. Die Test-I/O-Steuereinrichtung erzeugt Testbefehle basierend auf einem/einer von den externen Vorrichtungen eingegebenen Testbefehl/-adresse (C/A) und überträgt Test-I/O-Daten mit dem globalen Datenbus während eines Testbetriebsmodus.