发明名称 SPECTROMETRIC MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD FOR COMPENSATING FOR FALSE LIGHT
摘要 <p>Die vorliegende Lösung betrifft ein Messsystem und ein Verfahren zur Bestimmung spektrometrischer Messergebnisse mit hoher Genauigkeit. Das erfindungsgemäße spektrometrische Messsystem mit Kompensation von Falschlicht besteht aus mindestens einer Strahlungsquelle, mindestens einem Eintrittsspalt, einem Dispersionselement und einem Detektor, mit linear oder matrixförmig, in einer oder mehreren Ebenen angeordneten Detektorelementen. Der Detektor weist dabei auf seinen Detektorelementen eine regelmäßige Verteilung, mindestens zweier unterschiedlicher, wellenlängenselektiver Filter auf. Obwohl hierbei Detektoren aus Foto- und Videoanwendungen Verwendung finden, ist die Anwendung der Erfindung nicht auf den sichtbaren Spektralbereich begrenzt. Falls erforderlich können im letzten Schritt der Fertigung der Farbkamera die Farbfilter auf den Pixeln zum Teil weggelassen oder modifiziert werden. Es ist aber auch möglich andere Typen von Detektoren zu verwenden, bei denen die wellenlängenselektiven Filter und die zugeordneten Detektoren in mehreren Ebenen hintereinander angeordnet sind, bei denen jedem einzelnen Bildpunkt die vollen Farbinformationen zur Verfügung stehen.</p>
申请公布号 WO2007115628(A1) 申请公布日期 2007.10.18
申请号 WO2007EP02128 申请日期 2007.03.12
申请人 CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH;KERSTAN, FELIX;CORRENS, NICO;MARGRAF, JOERG 发明人 KERSTAN, FELIX;CORRENS, NICO;MARGRAF, JOERG
分类号 G01J3/28;G01J3/36;G01J3/51 主分类号 G01J3/28
代理机构 代理人
主权项
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