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发明名称
具有高温稳定性之低电阻率化合物耐高温金属矽化物
摘要
化合物耐高温金属矽化物系配制以呈现低电阻率与高温稳定性(high temperature stability)。实施例包含包括源极/汲极区域并具有化合物耐高温金属矽化物层于其上之各种类型的半导体装置,具有1 ohm.μ至10 ohm.μ之电阻率并在最高达到(up to)1100℃的温度为稳定的。
申请公布号
TW200739908
申请公布日期
2007.10.16
申请号
TW095143898
申请日期
2006.11.28
申请人
高级微装置公司
发明人
潘南西;布朗 大卫
分类号
H01L29/78(2006.01)
主分类号
H01L29/78(2006.01)
代理机构
代理人
洪武雄;陈昭诚
主权项
地址
美国
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