发明名称 玻璃基板之板厚测定装置
摘要 接收被薄型化处理之平面面板显示器用的贴合玻璃基板GL,并针对此玻璃基板,在复数之检查线LN1~LN3,计测其板厚的板厚测定装置40。具备有:3组之变位感测器Si,系与玻璃基板之被搬送的搬送路径直交,而配置在前述玻璃基板之表面侧与背面侧;和第1手段,根据变位感测器之输出讯号,算出各感测器与玻璃基板GL之表面的间隔距离D1、D2;和第2手段,系根据第1手段之算出值,与预先被特定之一对之感测器的间隔距离D0,来算出搬送中之前述玻璃基板的板厚T。若藉由本发明,则就算玻璃基板被薄型化,亦能正确地计测出板厚。
申请公布号 TW200739031 申请公布日期 2007.10.16
申请号 TW095129930 申请日期 2006.08.15
申请人 西山不锈化学股份有限公司 发明人 西山智弘
分类号 G01B11/06(2006.01) 主分类号 G01B11/06(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本