半导体装置电源及接地连续性之测试方法

摘要

本发明提供一种半导体装置电源及接地连续性之测试方法，该半导体装置具有输入及输出(IO)插针及至少一对电源及接地插针，该方法包括识别该装置之电源及接地插针。自该装置之IO插针为每一对电源及接地插针选择一受害者插针，且自剩余IO插针为每一受害者插针选择一入侵者插针。使该等入侵者插针在一高状态与一低状态之间轮转。量测每一受害者插针上之切换杂讯位准，且将所量测之切换杂讯位准与预定资料进行比较以判定该装置之电源及接地连续性。