电磁波检测元件与电磁波检测方法

摘要

电磁波检测元件与电磁波检测方法，其中此电磁波检测元件可以是由一周期性叠层所构成，或是由一两周期性叠层以及位于其间的一缺陷层所构成。此周期性叠层或缺陷层会受到待测之电磁波的作用，而产生一暂时性的折射率变化，因此可藉由量测通过此电磁波检测元件之一参考光的光穿透特性来检测电磁波。此光穿透特性可以是周期性叠层之光谱带隙的变化、或是周期性叠层对一特定波长之参考光的穿透强度变化，亦或是光穿透频谱上由缺陷层所引起之共振模的波长变化或是强度变化。