附有基板异常检测电路之装置

摘要

本发明提供一种附有基板异常检测电路之装置，可确实地发现、防止半导体试验装置中的DSA之错误装设或连接器之连接不良。且本发明系一种具有主机板20之半导体试验装置，该主机板20具备装载有插座板11的一组DSA10a、10b，以及连接该一组DSA10a、10b之各插座板11之连接器14的连接器，该半导体试验装置具备：ID设定用基板，分别装设在一组DSA10a、10b，设定赋予在该DSA10a、10b之ID编号，并输出表示该ID编号之ID讯号；一致电路，输入从ID设定用基板输出之ID讯号，以检测出该ID讯号之一致不一致；以及雏菊链电路，从主机板20侧之连接器21之一个输入讯号，经由所对应之DSA侧的连接器14将顺序讯号传送到全部连接器21、14，以检测出有无输出讯号。