发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 一种半导体装置,包含一矽基板、一应变引发层、一矽层、一场效电晶体(FET)、及一隔离区。在该矽基板上设置该应变引发层。在该应变引发层上设置该矽层。该应变引发层引发该矽层中的FET的通道部分晶格应变。该矽层包括FET。该FET包括一源极/汲极区、一SD扩张区(轻度掺杂汲极(LDD)区)、一闸电极以及一侧壁。源极/汲极区和应变引发层是分开的。在该FET周围,设置有隔离区。该隔离区穿透该矽层以达于该应变引发层。
申请公布号 TW200739906 申请公布日期 2007.10.16
申请号 TW096106070 申请日期 2007.02.16
申请人 NEC电子股份有限公司 发明人 村松谕
分类号 H01L29/772(2006.01);H01L21/334(2006.01);H01L21/76(2006.01) 主分类号 H01L29/772(2006.01)
代理机构 代理人 周良谋;周良吉
主权项
地址 日本