发明名称 测量装置、测试装置以及电子元件
摘要 本发明提供一种测量装置,其测量讯号位准以预定的位元时间间隔而迁移的被测量讯号,此测量装置包括:选通时序产生器,依次产生以大致相等的时间间隔而配置的选通;位准比较部,于依次供给的选通的时序内,检测被测量讯号的讯号位准;撷取记忆体,储存自位准比较部输出的讯号位准;以及数位讯号处理部,根据撷取记忆体所储存的资料中,时间间隔大致相等、且大于上述被测量讯号的位元时间间隔的资料所构成的资料系列,求出被测量讯号的测量结果。而且,本发明的测定装置亦可取代撷取记忆体而成为具备逻辑比较部及记忆体的形态,该逻辑比较部输出表示位准比较部所检测出的逻辑值与期望值是否一致的比较结果,该记忆体储存逻辑比较部输出的比较结果。此时,数位讯号处理部根据记忆体所储存的比较结果,而求出被测量讯号的测量结果。
申请公布号 TW200739092 申请公布日期 2007.10.16
申请号 TW096106773 申请日期 2007.02.27
申请人 爱德万测试股份有限公司 发明人 侯 哈里;山口隆弘
分类号 G01R29/02(2006.01);G01R29/26(2006.01) 主分类号 G01R29/02(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 日本