| 发明名称 |
Prövning af tætheden af pladevedhæftningsforbindelser og teststruktur til gennemförelse af fremgangsmåden |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DK1723402(T3) |
申请公布日期 |
2007.10.15 |
| 申请号 |
DK20050729617T |
申请日期 |
2005.03.05 |
| 申请人 |
X-FAB SEMICONDUCTOR FOUNDRIES AG |
发明人 |
KUMST, RONALD |
| 分类号 |
G01M3/28;B81C99/00;H01L21/66 |
主分类号 |
G01M3/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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