| 主权项 |
1.一种光检测器,系包含有一基板、一设置于基板 上的晶片、一封合基板及晶片的胶体及一固定于 该胶体上的入射窗口,其特征在于: 光检测器入光位置形成一单色滤光薄膜,该单色滤 光薄膜过滤出的光谱强度响应搭配晶片的光谱强 度响应系与液晶面板上彩色滤光片的对应色之滤 光频谱相近。 2.如申请专利范围第1项所述之光检测器,其光谱强 度响应的峰値波长与彩色滤光片穿透光谱的穿透 率峰値波长相差在5nm以内,又其光谱强度响应的 中心波长与彩色滤光片的穿透光谱的中心波长相 差在5nm以内,以及其光谱强度响应的半波宽与彩 色滤光片穿透光谱的半波宽误差在10nm以内。 3.如申请专利范围第1或2项所述之光检测器,该入 光位置为一晶片的上表面。 4.如申请专利范围第1或2项所述之光检测器,该入 光位置为入射窗口。 5.如申请专利范围第1项所述之光检测器,系该光检 测器为一红光检测器,其上形成红光滤光薄膜。 6.如申请专利范围第1项所述之光检测器,系该光检 测器为一绿光检测器,其上形成绿光滤光薄膜。 7.如申请专利范围第1项所述之光检测器,系该光检 测器为一蓝光检测器,其上形成蓝光滤光薄膜。 8.一种多色光源背光模组之色度控制电路,系包含 有: 复数光检测器,各光检测器入光位置形成一单色滤 光薄膜,该单色滤光薄膜过滤出的光谱强度响应搭 配晶片的光谱强度响应系与液晶面板上彩色滤光 片的对应色之滤光频谱相近; 复数判断电路,各判断电路的输入端系连接至对应 的光检测器,并设定有一亮度基准値,将光检测器 输入的检测数値与亮度基准値比对,判断目前背光 模组光源的亮度是否足够,并将判断结果输出;及 复数驱动电路,各驱动电路输入端分别连接至对应 的判断电路,而输出端则连接至对应发光二极体, 以依照判断电路输入的判断结果调整特定光色的 发光二极体亮度,直到符合亮度基准値。 9.如申请专利范围第8项所述多色光源背光模组之 色度控制电路,各光检测器的光谱强度响应的峰値 波长与彩色滤光片穿透光谱的穿透率蜂値波长相 差在5nm以内,又各光检测器的光谱强度响应的中 心波长与彩色滤光片的穿透光谱的中心波长相差 在5nm以内,以及各光检测器的光谱强度响应的半 波宽与彩色滤光片穿透光谱的半波宽误差在10nm 以内。 10.如申请专利范围第8或9项所述多色光源背光模 组之色度控制电路,复数发光二极体系包含至少一 颗红光检测器,其入光位置形成有一红色滤光薄膜 ,该红色滤光薄膜的光谱强度响搭配其晶片的光谱 强度响应系与液晶面板上彩色滤光片的红色滤光 频谱相近。 11.如申请专利范围第8或9项所述多色光源背光模 组之色度控制电路,复数发光二极体系包含至少一 颗绿光检测器,其入光位置形成有一绿色滤光薄膜 ,该绿色滤光薄膜的光谱强度响应搭配其晶片的光 谱强度响应系与液晶面板上彩色滤光片的绿色滤 光频谱相近。 12.如申请专利范围第8或9项所述多色光源背光模 组之色度控制电路,复数发光二极体系包含至少一 颗蓝光检测器,其入光位置形成有一蓝色滤光薄膜 ,该蓝色滤光薄膜的光谱强度响应搭配其晶片的光 谱强度响应系与液晶面板上彩色滤光片的蓝色滤 光频谱相近。 13.如申请专利范围第8项所述多色光源背光模组之 色度控制电路,该驱动电路系为一电流放大器。 14.如申请专利范围第8项所述多色光源背光模组之 色度控制电路,该驱动电路系为一定电流电路。 15.如申请专利范围第13项所述多色光源背光模组 之色度控制电路,该判断电路系为一减法器,该输 入端系对应连接一光检测器的输出端。 16.如申请专利范围第14项所述多色光源背光模组 之色度控制电路,该判断电路系为一比较器,其一 输入端系连接至对应的光检测器的输出端,另一输 入端设定一标准设定値。 图式简单说明: 第一图:系本发明光检测器一较佳实施例的侧视图 。 第二图:系本发明一较佳实施例应用于侧入式背光 模组的示意图。 第三图:系本发明色度调整电路一较佳实施例的电 路方块图。 第四图:系本发明色度调整电路一较佳实施例的电 路方块图。 第五图:系一红光波长光的光谱图。 第六图A:系单色滤光薄膜的光谱强度响应图。 第六图B:系光检测器晶片的光谱强度响应图。 第六图C:系本发明光检测器的光谱强度响应图。 |
