发明名称 |
半导体电阻及制造该半导体电阻的半导体制程 |
摘要 |
本发明揭示一种半导体电阻及制造所述半导体电阻的半导体制程。所述半导体电阻包含一基板、一深井、至少二接触区以及一掺杂区。所述基板是用第一型离子掺杂。所述深井是用第二型离子掺杂,且形成在基板中。接触区是用第二型离子重掺杂,且形成在所述深井中。掺杂区是用第一型离子掺杂,且与所述深井分离一距离。其中,第一型离子及第二型离子是为互补,且所述深井与所述掺杂区间的距离可用以调整崩溃电压。此外,所述半导体制程包含以下步骤:形成一含有第一型离子的深井;形成一含有第二型离子的掺杂区;形成一氧化层;以及在所述深井中形成含有第一型离子的至少二接触区。 |
申请公布号 |
CN101051654A |
申请公布日期 |
2007.10.10 |
申请号 |
CN200710103404.3 |
申请日期 |
2007.05.08 |
申请人 |
崇贸科技股份有限公司 |
发明人 |
蒋秋志;黄志丰 |
分类号 |
H01L29/86(2006.01);H01L27/04(2006.01);H01L21/02(2006.01);H01L21/822(2006.01) |
主分类号 |
H01L29/86(2006.01) |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 |
代理人 |
左一平 |
主权项 |
1.一种具有一崩溃电压的半导体电阻,其特征在于,包含:一基板,是用第一型离子掺杂;一深井,是用第二型离子掺杂,且形成在所述基板中;至少二接触区,是用所述第二型离子重掺杂,且形成在所述深井中;以及一掺杂区,是用所述第一型离子掺杂,且与所述深井分离一距离;其中,所述第一型离子及所述第二型离子是为互补,且所述深井与所述掺杂区间的距离调整所述崩溃电压。 |
地址 |
台湾省231台北县新店市宝兴路45巷8弄1号3楼 |