发明名称 半导体电阻及制造该半导体电阻的半导体制程
摘要 本发明揭示一种半导体电阻及制造所述半导体电阻的半导体制程。所述半导体电阻包含一基板、一深井、至少二接触区以及一掺杂区。所述基板是用第一型离子掺杂。所述深井是用第二型离子掺杂,且形成在基板中。接触区是用第二型离子重掺杂,且形成在所述深井中。掺杂区是用第一型离子掺杂,且与所述深井分离一距离。其中,第一型离子及第二型离子是为互补,且所述深井与所述掺杂区间的距离可用以调整崩溃电压。此外,所述半导体制程包含以下步骤:形成一含有第一型离子的深井;形成一含有第二型离子的掺杂区;形成一氧化层;以及在所述深井中形成含有第一型离子的至少二接触区。
申请公布号 CN101051654A 申请公布日期 2007.10.10
申请号 CN200710103404.3 申请日期 2007.05.08
申请人 崇贸科技股份有限公司 发明人 蒋秋志;黄志丰
分类号 H01L29/86(2006.01);H01L27/04(2006.01);H01L21/02(2006.01);H01L21/822(2006.01) 主分类号 H01L29/86(2006.01)
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 代理人 左一平
主权项 1.一种具有一崩溃电压的半导体电阻,其特征在于,包含:一基板,是用第一型离子掺杂;一深井,是用第二型离子掺杂,且形成在所述基板中;至少二接触区,是用所述第二型离子重掺杂,且形成在所述深井中;以及一掺杂区,是用所述第一型离子掺杂,且与所述深井分离一距离;其中,所述第一型离子及所述第二型离子是为互补,且所述深井与所述掺杂区间的距离调整所述崩溃电压。
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