发明名称 用于检测目标的照明阵列和光学测量系统
摘要 本发明提供一种照明阵列(100),其具有多个布置在一照明平面(250)内的发光元件(120a,120b),所述发光元件用于对一与所述照明平面(250)平行相向的照明行(140,240)进行照明。所述发光元件(120a,120b)分两组布置,从而使得每个由发光元件(120a或120b)组成的组均沿一发光行(130a或130b)布置,所述的两个发光行(130a,130b)彼此间存在一平行偏移间距,且与所述照明行(140,240)平行。所述的两个发光行(130a,130b)此外还以所述照明行(140,240)为对称轴呈对称布置,使得所述的两个发光行(130a,130b)所发出的光束以不同的入射平面射到所述照明行(140,240)上。所述发光元件(120a,120b)优选具有一可将发出的光束会聚在所述照明行(140,240)上的透镜系统(121),从而可在所述照明行(140,240)内实现至少近乎于恒定的高光强。此外,本发明还提供一种用于检测目标、且具有一本发明的照明阵列(100)与一线感应器(261)的光学测量系统。
申请公布号 CN101053292A 申请公布日期 2007.10.10
申请号 CN200580037798.6 申请日期 2005.09.30
申请人 西门子公司 发明人 哈拉尔德·斯坦兹尔;卡尔-海因茨·贝希;乔基姆·伊尔菲尔德;奥利弗·维茨
分类号 H05K13/04(2006.01) 主分类号 H05K13/04(2006.01)
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 张亮
主权项 1.一种照明阵列,所述照明阵列特别用于对一被一贴装头的一抓持装置拣取的组件进行照明,具有多个布置在一照明平面(250)内的发光元件(120a,120b,220a,220b),所述发光元件用于对一与所述照明平面(250)平行相向的照明行(140,240)进行照明,其中,所述发光元件(120a,120b,220a,220b)分两组布置,从而使得由第一发光元件(120a,220a)组成的一第一组沿一第一发光行(130a)布置,由第二发光元件(120b,220b)组成的一第二组沿一第二发光行(130b)布置,所述的两个发光行(130a,130b)彼此间存在一平行偏移间距,且与所述照明行(140,240)平行,以及所述的两个发光行(130a,130b)以所述照明行(140,240)为对称轴呈对称布置,使得所述第一发光元件(120a,220a)射在所述照明行(140,240)上的光束位于一第一入射平面内,所述第二发光元件(120b,220b)射在所述照明行(140,240)上的光束位于一第二入射平面内。
地址 德国慕尼黑