发明名称 |
被提供有集成测试装置的开关设备 |
摘要 |
本发明涉及包括一个矩阵的开关设备,所述矩阵具有连接点和集成测试装置,所述测试装置包括两对发生器/探测器,所述的发生器/探测器被以这样的方式成对地控制以便于RF测试信号从所述发生器到相关的矩阵输入以及从矩阵的输出到相关的探测器所通过的传输路径大约与开关矩阵的单侧长度相同。 |
申请公布号 |
CN100342239C |
申请公布日期 |
2007.10.10 |
申请号 |
CN02152735.0 |
申请日期 |
2002.11.20 |
申请人 |
NXP股份有限公司 |
发明人 |
G·格洛尔格恩;O·博格;B·法斯 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01);G06F11/26(2006.01);H03K17/56(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
王波波 |
主权项 |
1.一种开关设备,其包括通过连接点所连接的多个输入和输出,所述连接点构成一个开关矩阵,所述开关矩阵由控制元件驱动、用于将在所述输入被供给的信号切换到所述输出,所述设备包括由所述控制元件所控制的集成测试装置,以便于测试所述连接点的操作,其特征在于所述集成测试装置包括:-用于在所述输入的第一部分上产生第一预先设定测试序列的第一发生器;-用于在所述输入的第二部分上产生第二预先设定测试序列的第二发生器,所述第一和第二发生器由一个且相同的时钟信号所馈给;-用于探测所述第一或第二测试序列是否在所述输出的第一部分被正确地接收的第一探测器,以及-用于探测所述第一或第二测试序列是否在所述输出的第二部分被正确地接收的第二探测器。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |