错误核对与校正功能测试方法

摘要

一种错误核对与校正功能测试方法，由具有错误核对与校正功能的一北桥芯片组与一内存模块配合应用，其中内存模块具有多个存储单元及一同位数据缓存器，而同位数据缓存器具有一数据闩锁接脚，且由一信号产生单元提供一第一电平信号至数据闩锁接脚，测试方法包含以下步骤：首先，由北桥芯片组将一第一数据分别写入这些存储单元与同位数据缓存器；接着，提供一第二电平信号至同位数据缓存器的数据闩锁接脚，使同位数据缓存器无法写入数据；接着，由北桥芯片组将一第二数据分别写入这些存储单元与同位数据缓存器；最后，由北桥芯片组判断这些存储单元中的数据与同位数据缓存器中的数据是否相同。

主权项

1、一种错误核对与校正功能测试方法，其由具有错误核对与校正功能的一北桥芯片组与一内存模块配合应用，其特征在于，该内存模块具有多个存储单元及一同位数据缓存器，该同位数据缓存器具有一数据闩锁接脚，且由一信号产生单元提供一第一电平信号至该数据闩锁接脚，该测试方法包含：由该北桥芯片组将一第一数据分别写入这些存储单元与该同位数据缓存器；提供一第二电平信号至该同位数据缓存器的该数据闩锁接脚，使该同位数据缓存器无法写入数据；由该北桥芯片组将一第二数据分别写入这些存储单元与该同位数据缓存器；以及由该北桥芯片组判断这些存储单元中的数据与该同位数据缓存器中的数据是否相同。