| 发明名称 | 微处理器启动过程中对所用通用闪存的检测方法 | ||
| 摘要 | 一种微处理器启动过程中对所用通用闪存的检测方法，所述方法包括：A.将所有通用闪存的基本页读取命令归纳成预定数量的基本命令序列集，并在通用闪存及微处理器中设置校验密码；B.微处理器通过枚举基本命令序列读取通用闪存第一页，进行密码校验；C.当密码校验通过，证明微处理器成功地提取了通用闪存的参数，微处理器利用提取的参数从该通用闪存中读取并执行启动程序；否则，进入下一种基本命令序列的设置。该方法可以支持不同厂商，不同型号的所有NANDFLASH，并且该方法具有成本低、设计及实现简单的优点。 | ||
| 申请公布号 | CN101051272A | 申请公布日期 | 2007.10.10 |
| 申请号 | CN200610060172.3 | 申请日期 | 2006.04.04 |
| 申请人 | 深圳安凯微电子技术有限公司 | 发明人 | 李小明;李立华;林桂杰 |
| 分类号 | G06F9/445(2006.01) | 主分类号 | G06F9/445(2006.01) |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 王永文 |
| 主权项 | 1、一种微处理器启动过程中对所用通用闪存的检测方法，所述方法包括：A、将所有通用闪存的基本页读取命令归纳成预定数量的基本命令序列集，并在通用闪存及微处理器中设置校验密码；B、微处理器通过枚举所述基本命令序列读取所述通用闪存第一页，进行密码校验；C、当密码校验通过，证明微处理器成功地提取了通用闪存的参数，微处理器利用提取的参数从该通用闪存中读取并执行启动程序；否则，进入下一种基本命令序列的设置。 | ||
| 地址 | 518057广东省深圳市高新技术产业园南区深圳清华大学研究院B608 | ||