发明名称 特定被摄体检测方法和装置
摘要 本发明提供了一种特定被摄体检测方法和装置,所述方法包括特征提取步骤,弱分类步骤,强分类步骤以及特定被摄体检测步骤,其特征在于,所述特征提取步骤为提取所输入的图像的粒度空间内的稀疏粒子特征,所述稀疏粒子特征θ(π)为:θ(π)=<img file="200610072576.4_AB_0.GIF" wi="119" he="35" />,α<sub>i</sub>,α<sub>i</sub>∈{-1,+1},其中,π为图像的粒度空间,g<sub>i</sub>(π;x,y,s)为该粒度空间内的一个粒子特征,x,y分别是粒子在图像横坐标和纵坐标轴上的偏移量,s是粒子的尺度,而α<sub>i</sub>为粒子的组合系数,n为粒子个数。
申请公布号 CN101051346A 申请公布日期 2007.10.10
申请号 CN200610072576.4 申请日期 2006.04.07
申请人 欧姆龙株式会社;清华大学 发明人 艾海舟;黄畅;李源;劳世红
分类号 G06K9/00(2006.01);G06K9/46(2006.01) 主分类号 G06K9/00(2006.01)
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 代理人 孙海龙
主权项 1.一种特定被摄体检测方法,包括特征提取步骤,弱分类步骤,强分类步骤以及特定被摄体检测步骤,其特征在于,所述特征提取步骤为提取所输入的图像的粒度空间内的稀疏粒子特征,所述稀疏粒子特征θ(π)为:<math> <mrow> <mi>&theta;</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>&pi;</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>=</mo> <munderover> <mi>&Sigma;</mi> <mrow> <mi>i</mi> <mo>=</mo> <mn>1</mn> </mrow> <mi>n</mi> </munderover> <msub> <mi>&alpha;</mi> <mi>i</mi> </msub> <msub> <mi>g</mi> <mi>i</mi> </msub> <mrow> <mo>(</mo> <mi>&pi;</mi> <mo>;</mo> <mi>x</mi> <mo>,</mo> <mi>y</mi> <mo>,</mo> <mi>s</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>,</mo> <msub> <mi>&alpha;</mi> <mi>i</mi> </msub> <mo>&Element;</mo> <mo>{</mo> <mo>-</mo> <mn>1</mn> <mo>,</mo> <mo>+</mo> <mn>1</mn> <mo>}</mo> </mrow> </math> 其中,π为图像的粒度空间,gi(π;x,y,s)为该粒度空间内的一个粒子特征,x,y分别是粒子在图像横坐标和纵坐标轴上的偏移量,s是粒子的尺度,而αi为粒子的组合系数,n为粒子个数。
地址 日本京都府