发明名称 高通量多参数图像表面等离子体谐振测试仪
摘要 一种高通量多参数图像表面等离子体谐振测试仪,涉及检测技术,为立式菱形杠杆同步扫描结构;在正三角形光学棱镜的水平上平面上,设有阵列表面等离子体谐振芯片和微测量池,两者水平叠置,微测量池在谐振芯片上方,微测量池由输入管和输出管与自动进样系统连通;微测量池中设有至少一条通道流通池;光学系统、机械扫描系统、数据采集系统、自动进样系统分别与嵌入式微控制器电连接,微控制器与计算机相连,计算机预装信息采集处理软件和系统操作控制软件,操控测试仪,可进行机械运动扫描角度调制,或固定夹角内角度调制,或定点监测光强变化等三种工作模式测试;并采用图像采集信号,配以全自动采样进样系统,实现多参数定量测试,高通量检测。
申请公布号 CN101046446A 申请公布日期 2007.10.03
申请号 CN200610066542.4 申请日期 2006.03.30
申请人 中国科学院电子学研究所 发明人 崔大付;蔡浩原;王军波;李亚亭;梁金庆;刘长春;王于杰;郑自攀
分类号 G01N21/55(2006.01) 主分类号 G01N21/55(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 周国城
主权项 1、一种高通量多参数图像表面等离子体谐振测试仪,包括光学系统、图像采集系统、机械扫描系统、阵列多单元表面等离子体谐振芯片及反应测试池、自动采样进样流通系统以及系统操作控制、数据采集处理软件系统;其特征在于,还包括测试仪基座、光学平台、连杆组、滑块、导轨、螺杆、电机、传感器、光源、CCD图像采集器件和光学棱镜的光、机、电一体化机械扫描和信息采集系统,机械扫描结构为立式菱形杠杆同步扫描结构;在正三角形光学棱镜的水平上平面上,设有阵列表面等离子体谐振芯片和微测量池,两者水平叠置,微测量池在谐振芯片上方,微测量池上连有输入管和输出管,输入管和输出管的另一端与自动进样系统相连通;微测量池中设有至少一条通道流通池;光学系统、机械扫描系统、数据采集系统、自动进样系统分别与嵌入式微控制器电连接,微控制器又通过RS232端口与计算机相连,计算机预装有信息采集处理软件和系统操作控制软件,操控测试仪,进行机械运动扫描角度调制,或固定夹角内角度调制,或定点监测光强变化测试;并可采用图像采集信号,配以全自动采样进样系统,实现多参数定量测试,高通量检测。
地址 100080北京市海淀区北四环西路19号
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