| 发明名称 | 物体的双能量辐射扫描 | ||
| 摘要 | 在一个实施例中，公开了一种检查物体的方法，该方法包括：以第一和第二辐射能量扫描物体；探测第一和第二能量下的辐射；以及计算在第一和第二能量下探测的辐射的函数。可以对物体的对应部分计算函数。至少部分地根据该函数，来确定物体是否至少潜在地包括原子数高于预定原子数的高原子数材料。函数可以是比值。可以将该函数和第二函数进行比较，该第二函数可以是阈值，该阈值至少部分地基于具有预定原子数的材料。第二函数可以和第一函数相同。 | ||
| 申请公布号 | CN101048653A | 申请公布日期 | 2007.10.03 |
| 申请号 | CN200580006797.5 | 申请日期 | 2005.02.28 |
| 申请人 | 创新医疗系统技术公司 | 发明人 | 保罗·比约克尔霍尔姆 |
| 分类号 | G01N23/00(2006.01);G01N23/04(2006.01);G01N23/06(2006.01);H05G1/64(2006.01) | 主分类号 | G01N23/00(2006.01) |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 秦晨 |
| 主权项 | 1.一种检查物体的方法，包括：以第一和第二辐射能量扫描物体的至少一部分，其中，第一和第二辐射能量不同；探测在与物体的至少一部分相互作用后第一和第二辐射能量下的辐射；计算在第一和第二能量下探测的辐射的函数；以及至少部分地根据该函数，来确定物体是否至少潜在地包括原子数比预定原子数高的高原子数材料。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||