发明名称 |
磁性存储设备中的磁头飞行高度测量装置 |
摘要 |
首先,为了检查设备的噪声电平,将DC擦除应用于磁性记录介质并对磁性记录介质进行读取。然后,将包括一阶分量和三阶谐波频率的测试信号写入到磁性记录介质。读取写入的测试信号并且将傅立叶变换应用于读取的信号以获得一阶和三阶谐波分量的各自幅度。然后确定三阶谐波分量的幅度与获得的噪声电平相比是否足够大。如果幅度足够大,则同时使用一阶和三阶谐波分量来估算磁头飞行高度。如果幅度不是足够大,则仅使用一阶分量来估算磁头飞行高度。 |
申请公布号 |
CN101046966A |
申请公布日期 |
2007.10.03 |
申请号 |
CN200610099336.3 |
申请日期 |
2006.07.17 |
申请人 |
富士通株式会社 |
发明人 |
横畑徹;今村孝浩;饭田安津夫 |
分类号 |
G11B5/012(2006.01);G11B5/60(2006.01);G11B21/21(2006.01) |
主分类号 |
G11B5/012(2006.01) |
代理机构 |
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
宋鹤 |
主权项 |
1.一种在磁性存储设备中测量磁头飞行高度的测量设备,包括:测试信号写单元,写入包括多个频率分量的测试信号;读单元,读取所述写入的测试信号;幅度获取单元,从所读取的测试信号获得频率分量的幅度;以及飞行高度估算单元,估算所述磁头飞行高度,如果所述幅度小于预定值则不使用幅度小于所述预定值的频率分量。 |
地址 |
日本神奈川县 |