发明名称 Projektionsobjektiv einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage
摘要 Die Erfindung betrifft ein Projektionsobjektiv einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage zur Abbildung einer in einer Objektebene positionierbaren Maske auf eine in einer Bildebene positionierbare lichtempfindliche Schicht, wobei das Projektionsobjektiv (108) ein bildebenenseitig letztes optisches Element (113) mit einer Lichteintrittsfläche und einer Lichtaustrittsfläche aufweist und für einen Immersionsbetrieb ausgelegt ist, in welchem in einem Bereich zwischen der Lichtaustrittsfläche und der Bildebene (IP) eine Immersionsflüssigkeit (114) angeordnet ist, und wobei wenigstens eine zwischen der Lichteintrittsfläche des bildebenenseitig letzten optischen Elements (113) und der Immersionsflüssigkeit (114) befindliche Grenzfläche wenigstens bereichsweise eine Mikrostrukturierung (117, 217, 313a, 413a, 515a, 615a) aufweist.
申请公布号 DE102006011098(A1) 申请公布日期 2007.09.27
申请号 DE200610011098 申请日期 2006.03.08
申请人 CARL ZEISS SMT AG 发明人 HELLWEG, DIRK;FELDMANN, HEIKO
分类号 G02B13/14;G02B13/18;G03F7/20 主分类号 G02B13/14
代理机构 代理人
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